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晶体结构与缺陷的电子显微分析实验案例
马秀良
高等教育出版社
2024-01
全新
￥95.00
晶体结构与缺陷的电子显微分析实验案例
晶体结构与缺陷的电子显微分析实验案例
晶体结构与缺陷的电子显微分析实验案例
晶体结构与缺陷的电子显微分析实验案例 9787040610963 马秀良
作者： 马秀良
出版社： 高等教育出版社
ISBN： 9787040610963
出版时间： 2024-01
版次： 1
装帧： 其他
开本： 16开
纸张： 胶版纸
页数： 604页
字数： 720.000千字
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￥95.00
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